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WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
更新時間:2024-09-26
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):代理商
生產(chǎn)地址:
WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。
該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動測試流程,操作非常簡便、直觀。
由于近場光學(xué)信號極其微弱,alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管,并同時提供檢測器快速超載保護(hù)。更重要的是,UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容,實現(xiàn)近場光譜與成像測量。
WITec掃描近場光學(xué)顯微鏡 alpha300S
WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡,在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式。
關(guān)鍵特性:
突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率(橫向約 60 nm)
*的 SNOM 探針技術(shù)
在空氣與液體中均可使用
包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式
非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù),基本不需要樣品制備
可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像
集成三種技術(shù)到一臺儀器上:共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
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